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高分子涂层中介观尺度的应力集中测绘-康彪
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作者：六室 康彪 通过在高分子涂层中添加力致变色纳米粒子，结合激光扫描共聚焦显微镜，实现了对120μm*120μm*20μm空间内介观尺度应力集中的高精度测绘，可以为高分子涂层的高精度数学模型的建立以及高性能涂层的正向设计提供技术支持，为激光扫描共聚焦显微镜导出的原始数据。 未借助外部专业团队处理，未进行视觉效果处理或艺术加工。
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